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半自動目檢機

商品介紹 wafer檢驗
商品類別 Main
上架日期 2014-07-10
修改日期 2015-01-05
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適用範圍:

-4”~ 8”矽晶圓片

-太陽能晶片

-LED晶片

製程:

-製程收取片

-品保檢驗

-中檢站使用

規格:

-配合吸筆快速檢查wafer片,可區分良品及不良品

-區分四站: 入料站, 良品站, 不良品站, 報廢站

-需要目視全檢

優點:

-靜音

-速度快

-效能高

-不產生刮傷

 

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