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全自動目檢機

商品介紹 Wafer Inspection Machine
商品類別 Main
上架日期 2018-09-12
修改日期 2018-09-12
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適用範圍:

-矽晶圓片

製程:

-人員將卡匣放置未測1,未測2,OK1,OK2,重工,不可重工

-手臂取晶圓放置手檢區或是自動目檢區

-檢測完成後手臂取晶圓放置卡匣區

規格:

-8" 矽晶圓片

-可依使用者客製化

優點:

-效能高

-不產生刮傷

-靜音

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